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    產品概覽 技術規格 資料下載 行業應用

    一款先進的非破壞性電性故障定位設備

    它可以直接快速地透過IC正面或背面來找出缺陷所在位置。它利用高靈敏度的中紅外探測器在IC通電情況下探測缺陷位置熱輻射的分布,以此定位失效點。

    除了IC與Package以外,還可應用于大面積的產品,如PCB、面板等。




    LUXET Thermo 50非制冷型中紅外顯微系統特點:

    ? 非制冷高性價比
    ? 自主研發
    ? 鎖相功能,大幅提高信噪比
    ? 熱靈敏度1mK
    ? 輕便易攜帶
    ? 可配探針臺,高壓輸出方案
    ? 快速交付


    LUXET Thermo 50非制冷型中紅外顯微系統規格:


    鏡頭組合
    1x,2x可選
    紅外機芯非制冷 
    NETD=60mK
    鎖相幀頻
    1Hz-25Hz
    視野范圍
    可對焦至無窮遠處


    相關案例:


    失效器件一


    IC影像+Thermal Emission

    振幅圖

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