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    產品概覽 技術規格 資料下載 行業應用

    先進的非破壞性電性故障定位設備


    以直接快速地透過IC正面或背面來找出缺陷所在位置。它利用高靈敏度的中紅外探測器在IC通電情況下探測缺陷位置熱輻射的分布,以此定位失效點。


    除了IC與Package以外,鎖相紅外顯微鏡還可應用于大面積的產品,如PCB、面板等。




    LUXET Thermo 100制冷型中紅外顯微系統特色:


    ? 具有市場上*高靈敏度的熱源偵測系統
    ? 鎖相功能,大幅提高信噪比
    ? 熱靈敏度0.1mK
    ? 快速交付


    LUXET Thermo 100制冷型中紅外顯微系統規格:

    高電壓范圍
    3000V
    高電流范圍
    3A
    鎖相幀頻 1Hz-25Hz
    鏡頭組合 1x,2x,8x,廣角,可定制
    廣角范圍
    33mm * 26mm


    相關案例:
    失效器件一





    IC影像+Thermal Emission
    (高閾值熱點顯示)
    IC影像+Thermal Emission
    (低閾值)
    振幅圖
    失效器件二


    IC影像+Thermal Emission

    振幅圖


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