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    產品概覽 技術規格 資料下載 行業應用

    集優異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身


    日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性,結合眾多的自動化功能,可高效發揮其高性能。

    SU3900標配多功能超大樣品倉,可應對大型樣品的觀察。





    SU3900標配多功能超大樣品倉,可應對大型樣品的觀察


    樣品臺可搭載超大/超重樣品

    · 通過更換樣品提示,可防止由于與樣品的接觸而損壞設備或樣品
    · 選配樣品交換倉,可在主樣品倉保持真空的狀態下快速更換樣品,大大提高了工作效率
    · 具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由度*

    · 紅外CCD探測器,提高了樣品臺移動的**性


    支持全視野移動。SEM MAP支持超大樣品的全視野觀察
    · 與GUI聯合,可配備樣品倉室導航相機
    · 覆蓋整個可觀察區域
    · 支持360度旋轉


                      

    隨著各種自動化功能的強化,操作性能得到了進一步優化


    一個鼠標就能夠輕松操作的簡約GUI
    各種自動化功能
    · 自動調整算法經改良后,等待時間減少至以往的1/3以下(※S-3700N比例)
    · 提高了自動聚焦精度
    · 搭載Intelligent Filament Technology(IFT)
    Multi Zigzag,可實現多區域的大視野觀察
    Report Creator,可利用獲得的數據批量生成數據報告


                                             

    可提供滿足測試需求的應用解決方案


    可滿足多種觀察需求的探測器
    · 搭載高靈敏度UVD*,支持CL觀察
    · 高靈敏度半導體式背散射電子探測器,切換成分/凹凸等多種圖像
    配備了多功能超大樣品倉,可以搭載多種配件
    · SEM/EDS一體化功能*
    三維顯示測量軟件 Hitachi Map 3D*
    支持圖像測量軟件Image pro
    *配件


                                                           
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