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    產品概覽 技術規格 資料下載 行業應用

    適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統



    USPM-RU III反射儀可**測量當前分光儀無法測量的微小、薄樣本的光譜反射率,不會與樣本背面的反射光產生干涉。



    USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點:


    ◆消除背面反射光
    采用特殊光學系,消除背面反射光。不必進行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。

    ◆可測定微小領域的反射率
    用對物鏡對焦于小區域(φ60μm),可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點。

    ◆測定時間短
    使用Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測定,可迅速實現再現性很高的測定。

    ◆XY色度圖、L*a*b測定可能
    以分光測定法為基準,從分光反射率情況可測定物體顏色。

    ◆可測定的Hard Coat(高強度鍍膜)膜厚
    用于涉光分光法,可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚(單層膜)。



    USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀主要用途:

    1、各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取透鏡等)

    2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定(單層膜)

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